Dahoo, Pierre Richard Applications et métrologie à l'échelle nanométrique: Volume 2, Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique: Volume 2, Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
9781784057947
Dahoo, Pierre Richard
1784057940
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